arXiv cs.LG· Elaheh Akbari, James Liu, Keaton Hamm, Soheil Kolouri·· 18 天前AI 评分36
带误差凭证的切片 Wasserstein Sketch 方法研究
Sliced Wasserstein Sketches with Error Certificates
AI 导读
研究人员提出了基于自由权重 $M$-atom 最优量化的切片 Wasserstein Sketch 方法，利用 $L$ 个共享投影实现 $O(LM)$ 的比对时间复杂度，并给出了可计算的误差凭证。
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