arXiv cs.LG· Quanling Zhao, Ava Emami, Tsuyoshi Id\'e, Rajiv Joshi, Steven Holmes, Michael Passow, Tajana Rosing·· 12 天前AI 评分28
基于高维计算的在线开放世界晶圆缺陷发现框架 WaferHDC
Online Open-World Wafer Defect Discovery using Hyperdimensional Computing
AI 导读
研究人员提出了基于高维计算（HDC）的在线开放世界晶圆缺陷发现框架 WaferHDC。该架构无需重新训练静态分类器或归档全部原始晶圆历史，能在无标签和无预定义类别数量的情况下，快速检测异常并将反复出现的故障聚类为紧凑的高维向量表示。在工业标准数据集 WM-811K 上，WaferHDC 的调整兰德指数（ARI）较最强在线基线提升 13.3 个百分点，标准化互信息（NMI）提升 10.5 个百分点。
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